雷射加工|雷射解決方案|雷射雕刻|雷射鑽孔|雷射切割 :: 首頁 :: 產品介紹 :: LIGHT CONVERSION :: HARPIA :: HARPIA-TF

*飛秒上變頻和TCSPC測量相結合，佔用空間小
*簡便的操作和簡便的日常維護
*作為HARPIA-TA的附件或獨立單元使用
*在熒光上轉換和TCSPC模式之間輕鬆切換
*與運行頻率為50 – 1000 kHz的PHAROS和CARBIDE系列激光器兼容
*模擬PMT檢測器選件用於熒光上轉換
*上轉換晶體和棱鏡的自動光譜掃描和校準
*在飛秒至微秒範圍內測量熒光動力學
*完全控制泵浦光束的以下參數：
  –偏振（使用Berek偏振補償器）
  –強度（使用手動或自動連續可變中性密度濾光片）
  –門延遲（使用光學延遲線）
*使用單色儀的光譜分辨熒光檢測
*當與HARPIA-TA主機結合使用時，單個單色儀可用於時間分辨的吸收和熒光測量，而無需更換檢測器。其他單色儀選項也可用，例如用於*    更高TCSPC時間分辨率的雙減法單色儀

HARPIA-TF是一個時間分辨的熒光測量模塊，結合了熒光上轉換和TCSPC技術。在熒光上轉換中，來自樣品的信號與飛秒門控脈沖在非線性晶體中混合，以實現高時間分辨率，該分辨率受到門脈衝持續時間的限制，範圍為250 fs。對於超過150 ps的熒光衰減時間，可以在與時間相關的單光子計數（TCSPC）模式下使用該儀器，以測量200 ps – 2μs範圍內的動力學軌跡。HARPIA-TF模塊支持Becker＆Hickl TCSPC設備和檢測器。

這兩種時間分辨熒光技術的結合，可以測量飛秒到微秒範圍內的光譜分辨熒光衰減。

通過使用高重複頻率的PHAROS或CARBIDE激光器，可以測量熒光動力學，同時以低脈衝能量激發樣品直至幾納焦。