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雷射加工|雷射解決方案|雷射雕刻|雷射鑽孔|雷射切割 :: 首頁 :: 產品介紹 :: LIGHT CONVERSION :: HARPIA-TF

LIGHT CONVERSION
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HARPIA-TF
特點
●直截了當的操作
●模塊化設計,HARPIA-TA可壓縮
●充足的樣品空間,適合低溫恆溫器或流量系統
●自動光譜掃描和上轉換晶體調諧
●在單個儀器中測量數百fs至2μs的熒光動力學
●完全控制偏振,強度,延遲和波長

 

詳細介紹
●獨一無二的全能時間分辨光譜系統
●小巧緊湊的設計
●簡單的操作和簡單的日常維護
●可作為HARPIA-TA主機的附件安裝,也可作為獨立的時間分辨熒光測量系統獲取
●在不同的光譜測量模式之間輕鬆切換
●兼容PHAROS系列激光器,運行頻率為50 - 1000 kHz
●集成業界領先的Becker&Hickl®時間相關單光子計數器
●帶模擬PMT探測器的選項(僅限熒光上轉換)
●自動光譜掃描和上轉換晶體/棱鏡調諧 - 收集光譜或動力學曲線,無需進行重大系統調整
●在單個儀器中測量數百飛秒至2微秒的熒光動力學
●完全控制泵樑的以下參數:
▲偏振(泵浦光束中的Berek偏振補償器)
▲強度(兩種光束中的連續可變中性密度濾光片,可提供自動化版本)
▲延遲(柵極/探測光在光學延遲線中延遲)
▲波長(單色器後檢測熒光)
●標準Andor Kymera 193i雙輸出單色器。當與HARPIA-TA主機結合使用時,單個單色器可用於時間分辨吸收和熒光測量,無需檢測器交換。其他單色器選項也是可能的,例如雙減法單色器,以確保在必要時提高TCSPC時間分辨率
●標準8 ns延遲線,帶有電子元件和完整的軟件集成。延遲線完全集成在HARPIA-TA主機外殼中
HARPIA-TF是HARPIA-TA主機的時間分辨熒光測量擴展,結合了兩種時間分辨熒光技術。對於最高時間分辨率,使用時間分辨熒光上轉換技術測量熒光,其中從樣品發射的熒光在具有來自激光器的飛秒選通脈衝的非線性晶體中進行和頻混合。然後,時間分辨率受到門脈衝持續時間的限制,並且在250fs的範圍內。對於超過150 ps的熒光衰減時間,該儀器可用於時間相關的單光子計數(TCSPC)模式,該模式允許測量200 ps - 2μs時域中的高精度動力學軌跡。HARPIA-TF擴展設計時採用了業界領先的貝克爾&Hickl ® 時間相關的單光子計數係統,具有不同的探測器選項。
兩種時間分辨熒光技術的結合能夠記錄每個波長的熒光動力學的完全衰減; 在可獲得完整數據的情況下,可以對在不同波長下拍攝的動力學跡線的強度進行光譜校準,其中時間分辨數據的積分與穩態熒光光譜匹配。PHAROS激光系統的高重複率允許測量熒光動力學,同時以極低的脈衝能量激發樣品,最高可達幾納焦耳。

 

 

規格說明
應用
●光化學
●光生物學
●光物理
●材料科學
●半導體物理
●時間分辨光譜學

 

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